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基于SIFT算法的射線底片拼接技術(shù)研究
關(guān)鍵詞：無(wú)損檢測(cè) 射線檢測(cè) sift算法 射線底片偽造 圖像拼接
摘要：由于射線檢測(cè)技術(shù)自身技術(shù)特點(diǎn)和底片長(zhǎng)度的限制,同一焊縫的射線檢測(cè)信息通常需要多張相互搭接的底片方可完整顯示,這不僅降低了檢測(cè)結(jié)果的直觀性,還存在底片被偽造的隱患。目前,監(jiān)督檢驗(yàn)人員對(duì)射線底片的人工辨識(shí)是防止底片偽造的主要手段,但同一工程中底片數(shù)量較多,勢(shì)必造成人工辨識(shí)的效率和準(zhǔn)確性較低。針對(duì)以上問(wèn)題,采用SIFT算法對(duì)射線底片搭接區(qū)域特征的辨識(shí)與拼接技術(shù)展開(kāi)研究,對(duì)含缺陷與不含缺陷的模擬試塊射線底片進(jìn)行實(shí)驗(yàn),結(jié)果表明:SIFT算法能夠有效匹配射線底片搭接區(qū)域的相似特征,并實(shí)現(xiàn)底片的完整無(wú)縫拼接,拼接準(zhǔn)確率100%,此外,基于搭接區(qū)域特征和拼接結(jié)果實(shí)現(xiàn)底片偽造的快速辨識(shí)具有可行性。
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