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Microelectronics Reliability
  • ISSN:0026-2714

  • E-ISSN:1872-941X

  • H-index指數(shù):80

  • 文章自引率:0.12...

  • 影響因子:1.6

  • 年發(fā)文量:310

  • 研究類文章占比:98.39%

  • 開源占比:0.06...

  • OA被引用占比:0.02...

微電子可靠性 SCIE

Microelectronics Reliability

  • 國際簡稱:MICROELECTRON RELIAB

  • 出版周期:Monthly

  • 研究方向:工程技術 - 工程:電子與電氣

  • 出版語言:English

  • 創(chuàng)刊時間:1964

  • 是否預警:

  • 出版地區(qū):ENGLAND

  • 是否 OA:未開放

期刊介紹

《Microelectronics Reliability》(《微電子可靠性》)是一本由Elsevier Ltd出版的工程技術-工程:電子與電氣學術刊物,主要刊載工程技術-工程:電子與電氣相關領域研究成果與實踐,旨在打造一種學術水平高、可讀性強、具有全球影響力的學術期刊。本刊已入選SCIE來源期刊。該刊創(chuàng)刊于1964年,出版周期Monthly。2023年發(fā)布的影響因子為1.6。

服務流程:

期刊簡介

Magazine introduction

微電子可靠性(Microelectronics Reliability)在中科院分區(qū)中位于4區(qū),JCR分區(qū)位于Q3。審稿速度一般為 較快,2-4周 約8.3周,且近兩年沒有被列入國際預警名單,您可以放心投稿。如果您需要投稿指導,可在線咨詢我們的客服老師,我們將竭誠為您服務。

《微電子可靠性》致力于傳播微電子設備、電路和系統(tǒng)可靠性的最新研究成果和相關信息,涵蓋材料、工藝和制造、設計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題:測量、理解和分析;評估和預測;建模和仿真;方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領域(如設計、制造、集成、測試和現(xiàn)場操作)相結合的論文也將受到歡迎,并且特別鼓勵報告該領域和特定應用領域案例研究的實踐論文。

大多數(shù)被接受的論文將以研究論文的形式發(fā)表,描述重大進展和已完成的工作?;仡櫰毡楦信d趣的重要發(fā)展主題的論文可能會被接受作為評論論文發(fā)表。更初步的緊急通訊和關于當前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發(fā)表。所有投稿均需經過該領域頂尖專家的同行評審。

中科院SCI分區(qū)

Magazine introduction

2023年12月升級版

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

2022年12月升級版

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

2021年12月舊的升級版

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

2021年12月基礎版

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

2021年12月升級版

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

2020年12月舊的升級版

大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

分區(qū)表升級版:旨在解決期刊學科體系劃分與學科發(fā)展以及融合趨勢的不相容問題。升級版有如下優(yōu)勢:一是論文層級的主題體系既能體現(xiàn)學科交叉特點,又可以精準揭示期刊載文的多學科性;二是采用“期刊超越指數(shù)”替代影響因子指標,解決了影響因子數(shù)學性質缺陷對評價結果的干擾。整體而言,分區(qū)表升級版(試行)突破了期刊評價中學科體系構建、評價指標選擇等瓶頸問題,能夠更為全面地揭示學術期刊的影響力,為科研評價“去四唯”提供解決思路。相關研究成果經過國際同行的認可,已經發(fā)表在科學計量學領域國際重要期刊。

JCR 分區(qū)

Magazine introduction(2023-2024年最新版)

按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 239 / 352

32.2%

學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q4 113 / 140

19.6%

學科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 131 / 179

27.1%

按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 272 / 354

23.31%

學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q4 114 / 140

18.93%

學科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q4 140 / 179

22.07%

JCR:JCR沒有設置大類,只分為176個具體學科,按當期(1年)的影響因子進行分區(qū);JCR是按照“平均主義”思想,根據(jù)刊物IF的高至低平均劃分4個區(qū),每個區(qū)含有該領域總量25%的期刊。中科院的分區(qū)如同社會階層的金字塔結構,1區(qū)只有5%的頂級期刊,2~4區(qū)期刊數(shù)量也逐層增加,所以中科院的1區(qū)和2區(qū)雜志很少,雜志質量相對也高,基本都是本領域的頂級期刊。

統(tǒng)計數(shù)據(jù)

Magazine introduction

影響因子歷年變化趨勢

CiteScore歷年變化趨勢

中科院JCR分區(qū)歷年變化趨勢

引文指標和發(fā)文量歷年變化趨勢

自引數(shù)據(jù)歷年變化趨勢

影響因子:表示一種雜志的被引用頻率,是國際上通用的期刊評價指標,它不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質量的重要指標。

CiteScore:是影響因子最強有力的競爭者,是衡量期刊影響力的一個指標,由愛思維爾于2020年發(fā)布,旨在讓人們更細致地了解影響力對研究和期刊的意義。

CiteScore(2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore 指數(shù)
3.3 0.394 0.801
學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Safety, Risk, Reliability and Quality Q2 83 / 207

60%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 395 / 797

50%

大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 118 / 224

47%

大類:Engineering 小類:Condensed Matter Physics Q3 230 / 434

47%

大類:Engineering 小類:Surfaces, Coatings and Films Q3 74 / 132

44%

大類:Engineering 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q3 161 / 284

43%

TOP期刊

常見問題

Magazine introduction

Microelectronics Reliability

微電子可靠性定制服務方案,SCI檢索

免責聲明

Magazine introduction

若用戶需要出版服務,請聯(lián)系出版商,地址:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB。