電子測(cè)試?yán)碚撆c應(yīng)用雜志（Journal Of Electronic Testing-theory And Applications）在中科院分區(qū)中位于4區(qū)，JCR分區(qū)位于Q4。審稿速度一般為 較慢,6-12周 ，且近兩年沒有被列入國(guó)際預(yù)警名單，您可以放心投稿。如果您需要投稿指導(dǎo)，可在線咨詢我們的客服老師，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。

《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測(cè)試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國(guó)際論壇。這是唯一一本專門針對(duì)電子測(cè)試的雜志?！峨娮訙y(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過同行評(píng)審，以確保原創(chuàng)性、及時(shí)性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強(qiáng)調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會(huì)議論文，只要符合該雜志的同行評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)，編輯也會(huì)酌情發(fā)表。 《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評(píng)論文章，以促進(jìn)對(duì)最新技術(shù)的更好理解。

《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》的報(bào)道包括但不限于以下主題：

VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測(cè)試；

模擬和數(shù)字電子電路的測(cè)試；

微處理器、存儲(chǔ)器和信號(hào)處理設(shè)備的測(cè)試；

故障建模；

測(cè)試生成；

故障模擬；

可測(cè)試性分析；

可測(cè)試性設(shè)計(jì)；

可測(cè)試性綜合；

內(nèi)置自測(cè)試；

測(cè)試規(guī)范；

容錯(cuò)；

形式驗(yàn)證硬件；

驗(yàn)證模擬；

設(shè)計(jì)調(diào)試；

測(cè)試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）；

測(cè)試夾具；

電子束測(cè)試系統(tǒng)；

測(cè)試編程；

測(cè)試數(shù)據(jù)分析；

測(cè)試經(jīng)濟(jì)性；

質(zhì)量和可靠性；

CAD 工具；

晶圓級(jí)集成器件測(cè)試；

可靠系統(tǒng)測(cè)試；

制造良率和良率改進(jìn)設(shè)計(jì)；

故障模式分析和工藝改進(jìn)