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太赫茲全息成像技術(shù)在太陽電池中的應(yīng)用
關(guān)鍵詞：太赫茲 全息成像 太陽電池
摘要：晶體硅太陽電池具有成本低廉、工藝簡單等優(yōu)點(diǎn),但在生產(chǎn)過程中難免會(huì)出現(xiàn)斷柵、破裂等問題,因此對(duì)太陽電池片的檢測(cè)至關(guān)重要。太赫茲波作為一種具有光子學(xué)及電子學(xué)特征的電磁波在無損檢測(cè)方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。通過采用太赫茲量子級(jí)聯(lián)激光器數(shù)字全息成像系統(tǒng),對(duì)模擬設(shè)計(jì)的太陽電池金屬柵線、破裂硅片以及不同電阻率的襯底進(jìn)行測(cè)試。結(jié)果表明,太赫茲全息成像技術(shù)在太陽電池檢測(cè)領(lǐng)域具有較高的應(yīng)用價(jià)值。
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