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SoC電路的自動測試方法研究
關(guān)鍵詞：片上系統(tǒng) 內(nèi)核 啟動程序 自動測試
摘要：片上系統(tǒng)SoC作為集成了多種類型外設(shè)、面向特定用途的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品,對其進行全面測試是保證產(chǎn)品能夠可靠工作的必要環(huán)節(jié),然而由于工作受內(nèi)核控制,不能通過施加簡單激勵來得到期望狀態(tài)進行測試。故此提出一種基于自動測試設(shè)備的SoC電路自動測試方法。通過介紹自動測試程序的開發(fā)流程,對啟動程序和自動測試程序進行設(shè)計,建立起自動測試的實現(xiàn)方案。以C8051F500-IQ電路為例,在UltraFLEX自動測試系統(tǒng)實現(xiàn)了自動測試,測試結(jié)果表明該方案能夠完成對電路功能與性能的全面評價。
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