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TOFD檢測(cè)近表面盲區(qū)抑制方法研究
張東輝; 孫旭; 金士杰 中國核工業(yè)二三建設(shè)有限公司; 北京101300; 大連理工大學(xué)無損檢測(cè)研究所; 遼寧大連116024
關(guān)鍵詞：超聲衍射時(shí)差法 盲區(qū) 參數(shù)優(yōu)化 變型波 頻譜分析
摘要：針對(duì)超聲衍射時(shí)差法存在近表面檢測(cè)盲區(qū)問題,在簡(jiǎn)述參數(shù)優(yōu)化法、變型波法、頻譜分析法以及自回歸譜外推法的盲區(qū)抑制原理的基礎(chǔ)上,分別給出了每種方法的算例,探討了不同方法的特點(diǎn)及適用性,為TOFD實(shí)際檢測(cè)中近表面盲區(qū)抑制提供借鑒和參考。
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