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復(fù)合電介納米質(zhì)的短時(shí)擊穿及長時(shí)失效特性
關(guān)鍵詞：復(fù)合電介質(zhì) 納米 短時(shí)擊穿 長時(shí)失效特性
摘要：介紹聚合物絕緣失效對(duì)電網(wǎng)的安全運(yùn)行造成嚴(yán)重的影響,聚合物納米復(fù)合電介質(zhì)作為第三代絕緣材料表現(xiàn)出優(yōu)異的電氣特性,其中短時(shí)擊穿及長時(shí)失效是納米復(fù)合電介質(zhì)的關(guān)鍵性能之一。針對(duì)目前納米電介質(zhì)的研究現(xiàn)狀,綜述了納米電介質(zhì)的短時(shí)擊穿、真空沿面閃絡(luò)、耐電暈、耐局部放電、耐電樹老化、疏水特性以及其非線性電導(dǎo)特性,討論了納米摻雜對(duì)以上性能的改善機(jī)理。總結(jié)了納米電介質(zhì)研究的關(guān)鍵理論和技術(shù)問題,認(rèn)為納米粒子和聚合物基體之間的界面區(qū)是影響納米電介質(zhì)電氣、理化、機(jī)械等性能的關(guān)鍵,并指出對(duì)納米電介質(zhì)界面區(qū)的認(rèn)識(shí)及調(diào)控是今后的研究方向和重點(diǎn)。
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